
GOE PETE Technician
NXP USA Inc.
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āļŦāļāđāļēāļāļĩāđāļāļ§āļēāļĄāļĢāļąāļāļāļīāļāļāļāļāļŦāļĨāļąāļ
- āļāļģāđāļāļīāļāļāļēāļĢāļāļąāđāļāļāđāļē (Setup), āđāļāļĨāļāđāļāļĢāļ·āđāļāļ (Conversion) āđāļĨāļ°āļāļĢāļ§āļāļŠāļāļāļāļ§āļēāļĄāļāļĢāđāļāļĄāļāļāļāđāļāļĢāļ·āđāļāļāļāļāļŠāļāļ (Tester Checkout) āļŠāļģāļŦāļĢāļąāļāļāļēāļāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄāđāļĨāļ°āļāļēāļāļĢāļąāļāļĢāļāļāļāļļāļāļ āļēāļ (Qualification)
- āļāļĢāļ§āļāļŠāļāļāđāļāļĢāđāļāļĢāļĄāļāļāļŠāļāļ (Test Program), Load Board, Probe Card, Socket āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļāļąāđāļāļāđāļēāļŪāļēāļĢāđāļāđāļ§āļĢāđāļāđāļāļāđāļĢāļīāđāļĄāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļ
- āļāļģāđāļāļīāļāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļ Engineering Lots, āļāļēāļ Characterization āđāļĨāļ°āļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļ Qualification āļāļēāļĄāđāļāļāļāļēāļāļāļĩāđāļāļģāļŦāļāļ
- āļāļīāļāļāļēāļĄāļāļ§āļēāļĄāļāļ·āļāļŦāļāđāļēāļāļāļāļĨāđāļāļāļāļēāļ āđāļĨāļ°āļāļĢāļ°āļŠāļēāļāļāļēāļāļāļąāļāļāļĩāļĄ Product Engineering, Test Engineering, Operations āđāļĨāļ° Manufacturing
- āļĢāļ§āļāļĢāļ§āļĄ āļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđ āđāļĨāļ°āļŠāļĢāļļāļāļāđāļāļĄāļđāļĨāļāļĨāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāđāļĨāļ° Yield āđāļāļ·āđāļāđāļāđāđāļāļāļēāļĢāļāļĢāļ°āđāļĄāļīāļāļāļēāļāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄ
- āļŠāļāļąāļāļŠāļāļļāļāļāļēāļĢāļāļĢāļ§āļāļŠāļāļāļāļ§āļēāļĄāļāļđāļāļāđāļāļāļāļāļāđāļāļĢāđāļāļĢāļĄāļāļāļŠāļāļ āļāļēāļĢāđāļāđāđāļāļāļąāļāļŦāļēāļŪāļēāļĢāđāļāđāļ§āļĢāđ āđāļĨāļ°āļāļīāļāļāļĢāļĢāļĄāļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāđāļāđāđāļāļāļąāļāļŦāļēāļāļēāļāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄ (Engineering Debug)
- āļāļąāļāđāļāļĢāļĩāļĒāļĄāđāļĨāļ°āļāļĢāļīāļŦāļēāļĢāļāļąāļāļāļēāļĢāļāļąāļ§āļāļĒāđāļēāļāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļāļāļēāļ Characterization, Qualification, Reliability Testing āđāļĨāļ° Failure Analysis
- āļāļđāđāļĨāļāļ§āļēāļĄāļāļĢāđāļāļĄāđāļāđāļāļēāļāļāļāļāđāļāļĢāļ·āđāļāļāļāļāļŠāļāļāđāļĨāļ°āļŪāļēāļĢāđāļāđāļ§āļĢāđ āļĢāļ§āļĄāļāļķāļāļāļēāļĢāļāļĢāļ§āļāļŠāļāļāļāļĢāļ°āļāļģāđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļāļ§āļāļāļļāļĄāļŠāļīāļāļāđāļēāļāļāļāļĨāļąāļ
- āđāļāđāļāđāļĨāļ°āļĒāļāļĢāļ°āļāļąāļāļāļąāļāļŦāļēāļāļĩāđāļāļīāļāļāļāļāļīāđāļāļĩāđāļĒāļ§āļāļąāļ Yield, āļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļ āļŦāļĢāļ·āļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļĒāđāļēāļāļāļąāļāļāđāļ§āļāļāļĩ
āļāļļāļāļŠāļĄāļāļąāļāļī
- āļŠāļģāđāļĢāđāļāļāļēāļĢāļĻāļķāļāļĐāļēāļĢāļ°āļāļąāļāļāļĢāļ°āļāļēāļĻāļāļĩāļĒāļāļąāļāļĢāļ§āļīāļāļēāļāļĩāļāļāļąāđāļāļŠāļđāļ (āļāļ§āļŠ.) āļŦāļĢāļ·āļāļāļāļļāļāļĢāļīāļāļāļē āļŠāļēāļāļēāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄāđāļāļāđāļē āļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄāļāļīāđāļĨāđāļāļāļĢāļāļāļīāļāļŠāđ āđāļāļāđāļāđāļĨāļĒāļĩāđāļāļĄāļīāļāļāļāļāļąāļāđāļāļāļĢāđ āļŦāļĢāļ·āļāļŠāļēāļāļēāļāļĩāđāđāļāļĩāđāļĒāļ§āļāđāļāļ
- āļĄāļĩāļāļ§āļēāļĄāļĢāļđāđāļāļ·āđāļāļāļēāļāđāļāļĩāđāļĒāļ§āļāļąāļāļāļĢāļ°āļāļ§āļāļāļēāļĢāļāļĨāļīāļāđāļāļĄāļīāļāļāļāļāļąāļāđāļāļāļĢāđ āļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāļāļāđāļ§āđāļāļāļĢāđ (Wafer Sort) āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāļāļąāđāļāļŠāļļāļāļāđāļēāļĒ (Final Test)
- āļŠāļēāļĄāļēāļĢāļāđāļāđāļāļēāļāđāļāļĢāđāļāļĢāļĄ Microsoft Office āđāļāđāļāļĩ āđāļāļĒāđāļāļāļēāļ° Microsoft Excel (computer for manufacturing)
- āļĄāļĩāļāļąāļāļĐāļ°āļāđāļēāļāļāļēāļĢāļŠāļ·āđāļāļŠāļēāļĢ āļāļēāļĢāļāļģāļāļēāļāđāļāđāļāļāļĩāļĄ āļāļēāļĢāđāļāđāđāļāļāļąāļāļŦāļē āđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļ§āļīāđāļāļĢāļēāļ°āļŦāđāļāđāļāļĄāļđāļĨāļāļĩāđāļāļĩ
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